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AVATAR-HS SerDes测试
AVATAR-HS SerDes测试
主要特点

带CDR 的高速模拟前端

支持最高12.5 GBaud SerDes 物理层测试

支持常用的PRBS码型

支持Fixture的去嵌

支持NRZ/PAM4格式的数据时钟恢复

支持眼高和眼宽的自动测量

支持TJ/RJ/DJ测量与分解、支持Jitter注入

CTLE/FFE/DFE ,支持参数可配置均衡能力测试

支持信道嵌入

BER测试,支持PRBS pattern误码率统计

全双工性能测试,同时进行前向与反向传输测试

抖动、垂直和相位噪声分析软件

需求咨询
AVATAR-HS SerDes测试
AVARTA-HS系列,高速串行接口测试机,是专为各类具备高速串行传输接口的芯片测试而设计的机台。除量产测试外,AVARTA-HS也是研发调试和表征的测量首选机台。
  • 配置
    • 基础平台
    高指标收发测试单元
    支持12.5 / 20 / 32 / 56 GBaud的任意信号发生单元和实时示波器单元
    高精度的源测量单元
    数字Pattern单元
  • 测试
    • TX测试

      RX测试

        TX 回损测试

        RX误码率测试

        TX 时序抖动

        RX均衡能力测试

        TX 符号率准确度

        RX jitter容限测试

        TX 均衡能力测试

       

        TX Launch Voltage测试

       
  • 关于测试机
    • 眼图
    • 测试架构
    • 指标参数
    • 为使用者提供了功能强大、内容丰富的测量分析软件。除了具备眼图、BER等常规测试项外,AVARTA-HS机台还能提供一些用户关心的测试分析能力,如:具备Jitter注入和Jitter分解分析能力、支持参数可配置的CTLE/FFE/DFE误差分析测试、通过NRZ/PAM4格式的数据时钟恢复进行NRZ/PAM4信号测试,等等。完全自研的硬件和软件及算法IP,保障了高速测试能力并为用户提供最优的测试成本。
    • 典型的被测件包括:

      车载SerDes芯片

      MIPI C-PHY/D-PHY/A-PHY

      400GE/800GE Ethernet PHY/Switch

      PCIe5.0/6.0 Retimer/Redriver/Switch

      USB4 Retimer/Redriver/Switch

      RF Sampling ADC/DAC

      High Speed Clock...

    • 任意波形发生器:

      支持 0.5 - 12.5 GBaud 输出,1 Baud 符号速率步进

      支持NRZ与PAM4调制方式

      支持PRBS 7/9/13/15/23/31 及 13Q/31Q/SSPRQ 等常见伪随机测试码型

      提供抖动与噪声注入能力

      支持夹具与信道嵌入/去嵌入功能

      支持全双工性能测试 :同时进行前向与反向传输测试

      实时示波器:

      18GHz 带宽,典型上升时间22ps

      支持时钟数据恢复(CDR)

      眼图测试:自动测量眼高、眼宽、眼厚和抖动,支持用户自定义眼图模板

      抖动分析:支持 RJ/PJ/DDJ/DCD等抖动项的分解

      均衡器模拟:数据通路内建 CTLE/FFE/DFE/Bessel Thomson 等各类常见数字均衡器

      支持全双工性能测试 :同时进行前向与反向传输测试

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