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AVATAR-HS SerDes测试

主要特点

带CDR 的高速模拟前端

支持常用的PRBS码型

支持NRZ/PAM4格式的数据时钟恢复

支持眼高和眼宽的自动测量

支持TJ/RJ/DJ测量与分解、支持Jitter注入

支持信道嵌入

BER测试，支持PRBS pattern误码率统计

全双工性能测试，同时进行前向与反向传输测试

抖动、垂直和相位噪声分析软件

需求咨询

AVATAR-HS SerDes测试

AVARTA-HS系列，高速串行接口测试机，是专为各类具备高速串行传输接口的芯片测试而设计的机台。除量产测试外，AVARTA-HS也是研发调试和表征的测量首选机台。

配置

典型应用

串行器芯片/模组 Serializer

解串器芯片/模组 Deserializer

ADAS芯片/模组

车载高清传输量产板

HSMT/GMSL/FPD-LINK一致性测试项

串行器芯片 - Serializer	解串器芯片 - Deserializer
Serial-Output Rise Time	Serial-Input Amplitude Margin
Serial-Output Fall Time	Serial-Input Jitter Margin
Total Serial-Output Jitter	Serial-Input Amplitude Noise Margin
Deterministic Serial-Output Jitter	Error Bit Detection
Random Serial-Output Jitter	Frequency Offset Margin
Serial-Output Swing	SSC Margin
SSC Mod Rate	Duty Cycle Margin
SSC Frequency Deviation	Data Rate Margin
Serial-Output Data Rate and Frequency Offset
Power spectrum density

关于测试机
- 眼图
- 测试架构
- 指标参数
- 为使用者提供了功能强大、内容丰富的测量分析软件。除了具备眼图、BER等常规测试项外，AVARTA-HS机台还能提供一些用户关心的测试分析能力，如：具备Jitter注入和Jitter分解分析能力、支持参数可配置的CTLE/FFE/DFE误差分析测试、通过NRZ/PAM4格式的数据时钟恢复进行NRZ/PAM4信号测试，等等。完全自研的硬件和软件及算法IP，保障了高速测试能力并为用户提供最优的测试成本。
- 典型的被测件包括：
  车载SerDes芯片
  
  MIPI C-PHY/D-PHY/A-PHY
  
  串行器芯片/模组 Serializer
  
  解串器芯片/模组 Deserializer
  
  ADAS芯片/模组
  
  车载高清传输量产板
- MWG-242A/B系列 PXIe 高速任意波形发生器：
  带宽 ················ 10.5GHz
  
  分辨率 ············· 8 bit
  
  采样率 ············· 24 Gsa/s
  
  输出通道 ·········· A suffix：2.92mm, 2-CH SE./Diff.
  
  B suffix：SMP, 2-CH Diff.
  
  输出幅度 ·········· 100-600 mVp-p
  存储深度 ·········· 416.7ms @24 GSa/s (10Gpts)
  
  MDO-401A/B系列PXIe高速宽带数字示波器：
  
  带宽 ················ 18GHz
  
  分辨率 ············· 8 bit
  
  采样率 ············· 40 Gsa/s
  
  输入幅度 ·········· 500 mVp-p
  
  记录长度 ·········· 500ms @40 GSa/s (20Gpts)
  输入通道 ·········· A suffix：1 CH 2.92mm Diff.
  B suffix：1 CH SMP Diff.