METER™系列PXI测量仪表中的MDMU-032A 是一款专为半导体特性测试与生产测试而设计的高速数字码型 I/O 测试卡。
该板卡基于 PXIe 架构，提供多通道、高精度的数字码型信号配置与回读能力，广泛应用于运行高速测试向量、生成及测量数字信号，以及对芯片进行时序分析和电平控制的场景。
通道数量 …… 32-CH
数据速率 …… 133MHz (Typ.)
向量深度 …… 128 M
码型格式 ……… RZ\NRZ\RO\HiZ\SBC\PHS\change-on-the-fly
| 半导体量产测试：高效执行多工位并行测试，提升产能与测试覆盖率； |
| 芯片验证：支持功能验证与参数特性分析，确保芯片符合设计规范； |
| 芯片老化测试(Burn-In)：评估芯片可靠性与寿命； |
| 科研与实验室环境：用于原型开发、故障诊断及信号完整性测试。 |
