ADC（Analog-to-Digital Converter）是一种将模拟信号转换为数字信号的电子元件，它通常有如下功能：
采样：将连续的模拟信号转换为离散的时间序列；
量化：将采样后的信号幅度转换为离散的数字值；
编码：将量化后的数值转换为二进制数字输出。
TI公司ADC芯片示意（数据引用自TI公司官网）
JESD204高速接口是一种高速串行接口标准，主要用于连接数据转换器（如ADC和DAC）与逻辑设备（如FPGA）。
JESD204A：支持最高3.125 Gbps的速率；
JESD204B：支持最高12.5 Gbps的速率；
JESD204C：支持最高32 Gbps的速率；
持续的速度提升使得JESD204标准能够满足不断增长的高速数据转换需求，特别是在高性能ADC和DAC应用中。
对ADC进行完整测试所带来的挑战
高性能模拟信号源，如低相位噪声、平坦的频响、良好的谐波抑制等；
高频测试：应对ADC的采样率可达数GHz、数十GHz；
数字接口测试：针对JESD204x高速数字输出接口的完整性测试也是一个挑战；
动态范围测试：需要同时测试ADC在大信号和小信号下的性能；
复杂的测试方法和专业知识，对ADC完整测试也带来了极大的挑战。
TI公司ADC芯片示意（数据引用自TI公司官网）
MET的AVATAR™-ADDA测试机是专为ADC/DAC/Transceiver芯片测试设计的Turn-Key解决方案。该系统提供全面的ADC芯片测试功能，包括动态测试、静态测试、逻辑测试、时钟测试和功率测试等。
系统采用MET的MVG-102B矢量信号源，支持10 MHz至8 GHz频率范围的双通道输出。针对高速ADC的严格测试要求，特别是信号源的相位噪声和频响平坦度，MET将MVG-102B矢量信号源与MCK-124A高精度时钟卡完美结合，确保提供高精度、低相位噪声的时钟信号和外部参考信号。
矢量信号源：MVG-102B
频率范围 … 10 M- 8GHz
通道数 …… 2-CH
瞬时带宽 … 600 MHz
频率步进 … 1 Hz
高精度时钟源：MCK-124A
频率范围 … 0.1~12.8 GHz
输出功率 … -25~15dBm
时钟通道 … 4-CH
参考时钟 … 4-CH
同步触发 … 4-CH
相位噪声 … 10GHz:-115dBc/Hz @10k
抖动 ……… 26 fs Typ.
MET的高速ADC测试解决方案-动态测试和静态测试
除了高精度的测试硬件，MET还专门开发了ADLab-Suite高速ADC测试软件。该软件配备直观的向导功能，可有效指引工程师完成动态测试、静态测试等全面的测试评估，显著降低了操作难度。
谐波失真（dBc或dBFS）
总谐波失真（THD，dBc）
全功率带宽（MHz）
模拟输入满量程（Vp-p）
信纳比：SINAD，dB
噪声系数：NF，dB
噪底（dBFS）
有效位数（ENOB，Bits）
无杂散动态范围（SFDR，dBc）
信噪比：SNR
SNRFS，dBFS
增益误差/增益匹配
失调误差/增益匹配
输出高电平/输出低电平
差分非线性误差（DNL，LSB）
积分非线性误差（INL，LSB）
电源抑制比（PSRR，dB）
MET的高速ADC测试解决方案-JESD204B/C高速接口测试
目前主流的高速/高分辨率ADC器件普遍采用JESD204B串行接口标准。该标准支持高达12.5 Gbps的传输速率，有效提升了ADC与逻辑器件（如FPGA或ASIC）之间的数据传输带宽。
JESD204B/C的测试为工程师带来了多项挑战：如何实现最佳设计？如何有效进行系统调试？如何确保器件在产线测试中符合规范并正常运行？
针对这些挑战，MET基于JEDEC标准组织发布的OIF-CEI-0x规范中的SerDes PHY测试建议，结合实际需求，开发了完整的JESD204B/C测试解决方案。
使用MET的MDO-401A高速示波器，能够在40 GSa/s的采样速率和18 GHz带宽的情况下对高速串行信号进行观测。
带宽 ……… 18 GHz
分辨率 …… 8-bit
采样率 …… 40 GSa/s
输入通道 … 1-CH diff.
输入幅度 … 500 mVp-p
记录长度 … 500ms @40Gsa/s（20Gpts）
JESD204 Tx 一致性测试项
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JESD204 Tx Compliance Test |
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Tx LOGIC OUTPUT |
Tx Jitter | ||
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T_Baud |
波特率 |
PJ |
传输不相关有界高概率抖动 |
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T_Vdiff |
输出差分电压 |
DJ |
确定性抖动 |
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T_Vcm |
DC共模电压 |
DCD |
传输占空比失真 |
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T_VcmAC |
输出AC共模电压 |
TJ |
传输总抖动 |
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T_Rd |
差分阻抗 |
Eye Mask |
传输眼图模板 |
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T_Rdm |
差分负载阻抗失配 |
其他 功能 |
信道去嵌入 |
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T_tr, T_tf |
输出上升/下降时间 |
时钟频偏测量 |
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T_SDD22 |
差分输出回损 |
误码率分析 |
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T_SCC22 |
共模输出回损 |
功率谱密度测量 |
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