10月20至22日，第 18 届微波及天线展览会（IME2025）在上海世博展览馆盛大举行，苏州美星科技携众多创新成果精彩亮相，吸引了众多行业目光。

PART/1  现场直击

        美星科技的展位热闹非凡。我们展出了一系列具有前瞻性和创新性的射频和高速测试产品，吸引了众多参展观众驻足咨询。工作人员热情地为每一位来访者介绍产品的特点和优势，并进行现场演示，让大家更直观地感受我们产品的魅力。

图片

图片

图片

图片

图片

图片

PART/2  展会演讲

        在本次展会上，美星科技带来了一场干货满满的演讲，聚焦高速/高带宽ADC芯片全参数测试的挑战与创新之道，为行业发展注入新的活力。

图片

图片

        此次演讲深入探讨高速/高带宽ADC芯片全参数测试的挑战与创新解决方案，重点介绍美星科技基于PXIe模块化仪器架构开发的一体化测试系统——AVATAR-ADDA。内容涵盖高速ADC的核心动态参数（ENOB、SFDR、SNR）、静态参数（INL/DNL）以及JESD204B/C接口协议的性能测试方法等。

        详细分析如何运用美星科技的PXIe模块化仪表系统。该系统包含低相噪、低谐波、低抖动的模拟信号源和时钟信号源，能生成高质量测试信号，并通过高带宽示波器全面评估JESD204B/C串行接口性能。结合美星科技的专业软件测试套件，系统提供了FFT分析、动态/静态参数分析、高速串行接口眼图和抖动分析功能，同时支持灵活调整时钟和采样率配置。

        此外，演讲探讨了美星科技解决方案在测试下一代ADC、DAC和Transceiver芯片时的灵活性、扩展性和工程应用价值，为高带宽数据转换技术迈向更高性能提供测试验证路径。

        美星科技的这场演讲，无疑为高速/高带宽ADC芯片测试领域带来了新的思路和方法，为行业的发展提供了有力的支持。

PART/3  产品展示

图片

图片

图片

        在与众多行业伙伴、客户的交流中，我们深入探讨了微波及天线领域的最新技术趋势和市场需求。通过此次参展，不仅提升了美星科技的品牌知名度，也为我们与行业内各方搭建了一个良好的合作交流平台。

        未来，美星科技将继续加大研发投入，不断推出更多优质的产品和解决方案，为微波及天线行业的发展贡献更多的力量。

ABOUT US

        美星科技-MET-专注于提供射频与高速测试的PXI模块化测量仪表及解决方案。

       MET的PXI模块化测量仪表包括高速数字示波器(DSO)、任意波形发生器(AWG)、矢量信号收发器(VST)和模拟信号源(ASG)。我们开发了一系列优化用户体验的配套软件，包括ScopeWave™示波器软件、DesignerWave™信号发生 软件和SageWave™矢量信号分析软件。

       MET坚信：测量即认知，创新引领未来。