电子测量需求日益复杂,对信号测试和分析的要求不断提高,涉及精度、带宽、采样率等多项关键指标。作为核心测试设备,任意波形发生器(AWG)和示波器(DSO)在信号生成、采集和分析方面发挥着不可替代的作用,其性能直接决定测试结果的准确性和可靠性。
美星科技(MET)推出PXI模块化测量仪表,采用紧凑、小型化、高集成度的PXI架构,实现了高指标的硬件架构与信号处理技术,助力客户应对小型化、高性能、多场景的严苛挑战。其中:
高采样率任意波形发生器:MWG-242A/B系列
- 捕获高速瞬态信号
- 提供更高测量精度
- 支持先进应用测试
高采样率/大带宽示波器:MDO-401A系列
- 捕获高速瞬态信号
- 提供更高测量精度
- 支持先进应用测试
PXIe高采样率任意波形发生器
MWG-242系列高速任意波形发生器,配备双通道输出。其中,MWG-242A采用单端输出方式,MWG-242B采用差分输出方式。每个通道的采样率高达24 GSa/s,模拟带宽可实现10.5 GHz,满足您的宽带系统测试需求。MWG-242采用板载大容量存储模式,波形存储深度达416.7 ms@24 GSa/s (10Gpts)。
MWG-242搭配MET的高速接口信号测试套件Luna-Suite™,可实现指标优异的任意波形发生功能。下面是使用MWG-242产生PRBS码型的眼图展示(使用Keysight-DSOV334A进行测试的结果)
(a)PRBS7 @4Gbps @500mVpp (b)PRBS7 @8Gbps @500mVpp
(c)PRBS13 @8Gbps @500mVpp (d)PRBS13Q @1Gbps @500mVpp
MDO-401系列示波器,单卡单输入通道。其中,MDO-401A采用2.92mm差分输入方式,MDO-401B采用SMP差分输入方式。每个通道的采样率可达40 GSa/s,测试带宽达18 GHz。输入幅度可在500mVp-p,结合前端板卡可实现2Vp-p的输入幅度。MDO-401采用板载大容量存储模式,记录长度达500ms@40 GSa/s(20Gpts),可满足大规模的高速数据采集需求。
MDO-401搭配MET的高速接口信号测试套件Luna-Suite™,可实现功能多样的测试分析能力,如:时域、眼图、频域、抖动、误码率、信噪比等等。下面是使用Luna-Suite™对高速串行PRBS码型的分析界面。
使用案例
案例一 在PRBS信号中注入不同的RJ,并完成测量
※ 使用MWG-242生成8 Gbps的高速串行PRBS7信号
※ 分别进行10mUIrms,20mUIrms,40mUIrms的RJ注入
使用MWG-242注入RJ=10mUI rms,使用DSOV334A进行测试,测试结果为10.6mUI,证明了MWG-242的抖动注入精度极高,能够满足严苛的测试需求。
使用MWG-242注入RJ=20mUI rms,使用Keysight-DSOV334A进行测试,测试结果为19.8mUI,测量值与目标值接近。
使用MWG-242注入RJ=40mUI rms,使用Keysight-DSOV334A进行测试,测试结果为37.6mUI,测量值与目标值接近。
案例二 注入误码,并完成误码率测量
※ 使用MWG-242发送如下信号
信号类型:PRBS7,峰峰值800mVp-p,符号速率1Gbps
误码注入:按比例注入0.03
※ 使用MDO-401搭配Luna-Suite™测试软件进行误码率测试,测试结果为0.03,结果显示实测值与设置保持一致。测试结果如下图:
案例三 使用双通道AWG生成信号并进行“加扰加噪”测试
※MWG-242A通道1生成PRBS7 @8Gbps @500mVpp]
※MWG-242A通道2生成噪声信号 @100MHz~8GHz @100mVpp
PRBS7 @8Gbps @500mVpp噪声合路前后测量结果对比如下,可以观测到噪声合路后眼高明显变低,眼厚明显增加
※ MWG-242通道1生成PRBS7 @1Gbps @500mVpp
※ MWG-242通道2生成正弦干扰Sine @500KHz @200mVpp
操作步骤与前述一致,可以观测到正弦干扰Sine信号已叠加到PRBS7信号上,眼图结果也符合预期。合路前后测量结果对比如下图:
(a)Sine合路前 (b)Sine合路后
案例四 使用示波器完成眼图、抖动等测量
※ 使用AWG-242A发送串行PRBS信号,并通过MDO-401A进行接收和测量
※ 在Luna-Suite™的测试界面的左下角区域,可以切换显示不同参数的统计分析图,例如可以显示PSD功率谱密度、抖动时域、抖动频域及抖动周期等分析图。
分析视图切换
PSD功率谱密度 抖动时域分析结果
抖动频域分析结果 周期抖动分析结果
ABOUT US
美星科技(MET)专注于提供射频与高速测试的PXI模块化测量仪表及解决方案。
MET的PXI模块化测量仪表包括高速数字示波器(DSO)、任意波形发生器(AWG)、矢量信号收发器(VST)和模拟信号源(ASG)。我们开发了一系列优化用户体验的配套软件,包括ScopeWave™示波器软件、DesignerWave™信号发生软件和SageWave™矢量信号分析软件。
针对不同应用场景,MET提供全面的测试解决方案,包括高速数字接口SerDes、ADC/DAC/Transceiver、RF-SOC和高速线缆等专用测试系统,并配套相应的测试套件。
MET的产品广泛应用于移动通信、无线局域网、卫星导航、高性能计算和智能汽车等领域,同时为半导体测试提供关键支持。我们的研发团队持续探索前沿科技,开发自主知识产权产品,为客户提供高效精准的测试方案。
MET坚信:测量即认知,创新引领未来。
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