Analog-to-Digital Converter(ADC)是一种将模拟信号转换为数字信号的电子元件
- 采样：将连续的模拟信号转换为离散的时间序列；
- 量化：将采样后的信号幅度转换为离散的数字值；
- 编码：将量化后的数值转换为二进制数字输；
对ADC进行量产测试所带来的挑战
- 高性能模拟源：低相位噪声、平坦的频响、良好的谐波抑制等；
- 高频测试：应对ADC的采样率可达数GHz、数十GHz ；
- 数字接口测试：针对JESD204高速数字接口的完整性测试也是一个挑战；
- 高性能时钟源：低相位噪声、低抖动， 提供精准的采样时钟；
- 复杂的测试方法和专业知识， 对ADC完整测试带来了很大的挑战；
美星科技的AVATAR™-ADC芯片测试系统示意图
※ 为何MET的模块化仪表适合ADC芯片测试？
美星科技的模块化测量仪表采用了PXIe标准接口，PXIe是一种高性能模块化仪表的开放标准，美星科技在PXIe标准接口下提供了一系列功能强大的模块化测量仪表、可扩展机箱、嵌入式控制器等产品，便于构成高性能的基于PXIe灵活扩展的测试系统。
MET的AVATAR™-ADC测试系统，由模拟信号源、时钟源、高速示波器等核心测量单元组成，并提供了专门为ADC测试而定制的射频前端板卡，用于实现通道切换、信号放大、谐波抑制等功能。此外，用户还可以灵活配置PPMU、SMU等测量单元，完成ADC芯片的Digital I/O和Power的测试。
“紧凑 可集成 可升级 从研发到量产”
MET的高速ADC测试解决方案是专为ADC/DAC/Transceiver芯片测试设 计的Turn-Key解决方案。该系统提供全面的ADC芯片测试功能，包括动态测试、静态测试、逻辑测试、时钟测试和功率测试等。
系统采用MET的MSG-124B模拟信号源，覆盖12.5MHz至12.8GHz的频率范围，独立四通道输出，具备优异的相噪特性。针对高速ADC的严格测试要求，特别是信号源的相位噪声和频响平坦度，MET将MSG-124B模拟信号源与MCK-124A高精度时钟卡完美结合，确保提供低相位噪声、低抖动的高精度时钟信号和外部参考信号。
美星科技的AVATAR™-ADC芯片测试系统示意图
模拟信号源：MSG-124B
高精度时钟源：MCK-124B
※ AVATAR™-ADC：动态测试与静态测试
除了高精度的测试硬件，MET还专门开发了ADLab-Suite高速ADC测试软件。该软件配备直观的向导功能，可有效指引工程师完成动态测试、静态测试等全面的测试评估，显著降低了操作难度。
谐波失真（dBc或dBFS）
总谐波失真（THD，dBc）
全功率带宽（MHz）
模拟输入满量程（Vp-p）
信纳比：SINAD，dB
噪声系数：NF，dB
噪底（dBFS）
有效位数（ENOB，Bits）
无杂散动态范围（SFDR，dBc）
信噪比：SNR
SNRFS，dBFS
増益误差/増益匹配
失调误差/增益匹配
输出高电平/输出低电平
差分非线性误差(DNL，LSB)
积分非线性误差(INL，LSB)
电源抑制比(PSRR，dB)
※ AVATAR™-ADC：JESD204接口测试
目前主流的高速/高分辨率ADC器件普遍采用JESD204B串行接口标准。该标准支持高达12.5 Gbps的传输速率，有效提升了ADC与逻辑器件（如FPGA或ASIC）之间的数据传输带宽。
针对不同的Lane传输速率，美星科技提供了不同带宽、不同采样率的PXIe模块化示波器测量仪表，为用户提供最高效的测试能力。此外，MET基于JEDEC标准组织发布的OIF-CEI-0x规范中的SerDes PHY测试建议，结合实际需求，开发了完整的JESD204B/C测试解决方案。
美星科技-MDO系列-高速示波器产品示意图
选购指南
使用MET的MDO系列高速示波器，能够在40 GSa/s的采样速率和18 GHz带宽的情况下对JESD204的SerDes Lane的高速串行信号进行观测，对JESD204B/C的Tx发射机的性能进行完整的一致性测试。
MET专门为ADC芯片测试开发的ADLab-Suite测试套件，能让用户轻松完成JESD204接口性能的全面评估。该套件可测量传输速率、眼图模板和抖动分析（PJ/RJ/TJ等）。考虑到测试环境的限制，该套件还配备了信道去嵌入功能，以提供更精确的测量结果。
使用ADLab-Suite专用测试套件，用户可以灵活配置测试流程，同时获得直观的图形显示功能，包括波形的时域特性、上升/下降时间和传输波特率等。ADLab-Suite降低了使用门槛，用户无需深入理解每个测试项目的物理原理即可操作。
JESD204 Tx 一致性测试项
JESD204 Tx Compliance Test
|
Tx LOGIC OUTPUT |
Tx Jitter | ||
|
T_Baud |
波特率 |
PJ |
|
|
T_Vdiff |
输出差分电压 |
|
确定性抖动 |
|
T_Vcm |
|
DCD |
传输占空比失真 |
|
T_VcmAC |
输出AC共模电压 |
TJ |
传输总抖动 |
|
T_Rd |
|
Eye Mask |
传输眼图模板 |
|
T_Rdm |
差分负载阻抗失配 |
其他 功能 |
信道去嵌入 |
|
T_tr, T_tf |
输出上升/下降时间 |
时钟频偏测量 |
|
|
T_SDD22 |
差分输出回损 |
误码率分析 |
|
|
T_SCC22 |
共模输出回损 |
功率谱密度测量 |
|
END
ABOUT US
美星科技（MET）专注于提供射频与高速测试的PXI模块化测量仪表及解决方案。
MET的PXI模块化测量仪表包括高速数字示波器(DSO)、任意波形发生器(AWG)、矢量信号收发器(VST)和模拟信号源(ASG)。我们开发了一系列优化用户体验的配套软件，包括ScopeWave™示波器软件、DesignerWave™信号发生软件和SageWave™矢量信号分析软件。
针对不同应用场景，MET提供全面的测试解决方案，包括高速数字接口SerDes、ADC/DAC/Transceiver、RF-SOC和高速线缆等专用测试系统，并配套相应的测试套件。
MET的产品广泛应用于移动通信、无线局域网、卫星导航、高性能计算和智能汽车等领域，同时为半导体测试提供关键支持。我们的研发团队持续探索前沿科技，开发自主知识产权产品，为客户提供高效精准的测试方案。
MET坚信：测量即认知，创新引领未来。
分享：
新闻中心
2025-04-10新闻中心
2025-04-03新闻中心
2025-03-25
