USB Type-C：开启连接与供电的新纪元

- 正反盲插：对称的24针设计彻底解决了方向性问题

- 纤薄坚固：显著小于USB-A的尺寸，机械强度提升耐用性

- 扩展性强：可同时满足充电、高速数据传输等复合需求

- 协议基石：可承载最新的USB 3.2 (20 Gbps)、USB4 (40 Gbps)及雷电 (Thunderbolt 3/4)等超高速协议，带宽不再是瓶颈

      USB Type-C凭借革命性的设计理念、强大的功能整合能力以及全球产业链的共同推动，已成为连接、供电与数据传输的事实标准，连接我们通往一个更简洁、高效、强大的数字化未来。

美星科技的ALTAS™-USB Type-C线缆测试系统-实物图

※  USB Type-C线缆量产测试要求

1. Type-C to Type-C 电缆组件
2. Type-C to传统电缆组件
3. Type-C to 传统适配器
4. Type-C 插座连接器
5. 裸电缆

1. 超高速信号：USB4 Gen2、USB3.2 Gen2、USB3.2 Gen1
2. 低速信号：USB2.0 D+/D-信号和CC1/CC2、SBU1/SBU2等

      ※  MET的ALTAS™-USB测试系统

        美星科技的ALTAS™-USB系列测试系统是专门针对Type-C线缆的自动化测试而开发的，系统测试功能依照USB Type-C标准测试MOI规范，是一套自动简单且高效的测试方案。主要功能：

• 全自动执行Type-C线缆测试，大大缩减测试时间
• 测试软件操作简便，可灵活配置，对使用者无技术门槛要求
• 完整覆盖所有测试项：规范测试项、非规范测试项
• 自动生成清晰直观的PDF测试报告，包含详细数据和分析图形

美星科技的ALTAS™-USB线缆测试系统-示意图

• 提供简化的向导设置与校准流程

        校准流程是确保S参数测量精度的基础环节。鉴于USB Type-C线缆测试需要同时进行时域和频域测量分析，系统需要执行多个校准阶段。MET的ALTAS™-USB测试系统，配备的智能校准向导能够高效管理整个校准流程，包括对开关矩阵系统中各路径进行系统化校准，从而实现最优化的测量性能。

美星科技的ALTAS™-USB线缆测试系统-软件界面

• 测试夹具去嵌入功能增强测量准确度

      ALTAS™-USB系统集成了先进的自动化测试夹具去嵌入技术，通过消除手动操作环节可能产生的误差和不一致性，从而确保测量数据的可靠性和精确性。

• 提供全面的测试覆盖率

      ALTAS™-USB系统为USB Type-C电缆组件提供完整的测试方案。将近百个测试要求整合为全自动化的解决方案，大大提升测试效率并最大程度降低人为操作风险。测试项实现了完整覆盖，包括一致性测试规范所必须的测试项，和规范未作强制要求，但是提供参考的测试项。

      下图是以USB 3.2 C-C(Gen2)线缆的测试报告为例，的测试结果汇总页面。

美星科技的ALTAS™-USB线缆测试系统-测试报告

• 支持独立的测试项分析功能，可生成全面的数据分析报告及可视化图形

      用户仅需要配置通过Test Spec界面即可完成全部的自动化测试，ALTAS™-USB系统将自动执行S4P测量及数据处理工作，并将测试结果与波形数据整合至报告中。通过整合4至32端口开关矩阵系统的自动化功能，显著优化了测试效率。

      ALTAS™-USB系统生成的PDF格式的测试报告提供了完整的测试数据，包括各项测试参数的限值规范、裕量分析、测试说明及测试状态等关键信息。同时，系统会自动保存VNA测量波形以供后续参考，所有原始测试数据均按规范存储于测试目录，便于后期进行产品良率分析及深入的数据研究。

美星科技的ALTAS™-USB线缆测试系统-测试报告

• 高速与低速测试的整合设计

      ALTAS™-USB系统为USB Type-C电缆组件提供完整的测试方案，包括测试规范要求的高速测试项与低速测试项。传统方案在使用过程中需要在高速测试系统和低速测试系统中进行切换，不仅耗时，而且还造成了对测量仪表资源的重复投入。美星科技的ALTAS™-USB系统，将高速测试与低速测试进行了整合，能够一站式的解决所有的测试项，并进行测试数据和测试报告的整合。

END

        美星科技（MET）专注于提供射频与高速测试的PXI模块化测量仪表及解决方案。

         MET的PXI模块化测量仪表包括高速数字示波器(DSO)、任意波形发生器(AWG)、矢量信号收发器(VST)和模拟信号源(ASG)。我们开发了一系列优化用户体验的配套软件，包括ScopeWave™示波器软件、DesignerWave™信号发生软件和SageWave™矢量信号分析软件。

         针对不同应用场景，MET提供全面的测试解决方案，包括高速数字接口SerDes、ADC/DAC/Transceiver、RF-SOC和高速线缆等专用测试系统，并配套相应的测试套件。

         MET的产品广泛应用于移动通信、无线局域网、卫星导航、高性能计算和智能汽车等领域，同时为半导体测试提供关键支持。我们的研发团队持续探索前沿科技，开发自主知识产权产品，为客户提供高效精准的测试方案。

         MET坚信：测量即认知，创新引领未来。