高速数字与宽带瞬态测试现场，真正棘手的往往不是“信号有没有”，而是：

• 细节发生得太快，带宽不足会把边沿“抹平”，导致误判。
• 异常偶发且不可重复，必须在单次采集中把证据抓住。
• 抓到波形之后，还要能快速分析，把波形转成可对齐的指标与结论。

       超高速眼图与数字化仪的核心功能，是实时捕捉、显示和分析高频电信号，并把“波形”转化为“实时眼图与可量化指标”。

      围绕真实工程需求，美星科技(MET)推出 MDO-040X系列：40 GHz带宽、120 GSa/s实时采样率的PXIe模块化超高速眼图与数字化仪，面向高速链路调试与快沿瞬态观测，帮助用户把“看一眼”升级为“抓得住、说得清、能复现”。

MDO-040X 是面向高速数字与宽带瞬态的PXIe模块化超高速眼图与数字化仪，聚焦两大核心能力：眼图测试与快沿测试，并支持融入系统级验证与自动化流程。

 ※     关键指标

• 模拟带宽 ............ 40 GHz
• 实时采样率 ........ 120 GSa/s
• 垂直分辨率 ........ 8-bit
• 通道数 ............... 单通道 / 支持扩展通道
• 触发能力 ........... 边沿触发等
• 接口与自动化 .... 提供API接口
• 其他参数 ........... 敬请期待

 ※     两大核心能力

1）眼图测试：

      眼图是高速链路最直观的“健康体检表”。通过实时眼图能力，工程团队可以更直观地观察链路裕量，并把问题进一步量化成可对齐的结果：

• 眼高、眼宽
• 抖动与噪声相关指标
• 交叉点与电平相关指标

2）快沿测试：把皮秒级上升沿与瞬态细节抓住并还原

     快沿信号包含大量高频成分。带宽不足会让上升沿变钝，过冲与振铃被低估，定位方向容易跑偏。

     MDO-040X系列的 40 GHz 带宽 + 120 GSa/s 实时采样率提供了快沿观测的底座能力，在单次捕获中尽可能保留高频细节与采样密度，让上升沿、毛刺、窄脉冲与突发瞬态的还原更可信。

 ※     获取资料与样机参观

     3月份，美星科技将以“系列发布”的形式持续更新内容，并在月底安排现场发布会与样机参观。

• 获取资料包：参数表、选型建议、演示视频
• 预约参观/试用：请联系美星科技

      带宽、采样率、存储深度很重要，但真正决定研发效率的，是整套测试链路能否快速闭环。

      如果你正在做高速接口、宽带瞬态或系统级自动化验证，欢迎关注美星科技（MET）的后续系列内容，也欢迎到现场看样机、聊场景。

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ABOUT US

       美星科技（MET）专注于提供射频与高速测试的PXI模块化测量仪表及解决方案。MET的PXI模块化测量仪表，包括高速数字示波器(DSO)、任意波形发生器(AWG)、矢量信号收发器(VST)和模拟信号源(ASG)。我们开发了一系列优化用户体验的配套软件，包括ScopeWave™示波器软件、DesignerWave™信号发生软件和SageWave™矢量信号分析软件。

       针对不同应用场景，MET提供全面的测试解决方案，包括高速数字接口SerDes、ADC/DAC/Transceiver、RF-SOC和高速线缆等专用测试系统，并配套相应的测试套件。

       MET的产品广泛应用于移动通信、无线局域网、卫星导航、高性能计算和智能汽车等领域，同时为半导体测试提供关键支持。我们的研发团队持续探索前沿科技，开发自主知识产权产品，为客户提供高效精准的测试方案。

       MET坚信：测量即认知，创新引领未来。