全球规模领先的半导体行业盛会——SEMICON China 2026将于2026年3月25日至27日在上海新国际博览中心隆重举办。

      届时，美星科技将携最新技术成果与应用方案亮相展会，诚邀您莅临 E7 馆 E7751 展位参观交流。

      我们期待与您现场深入探讨行业趋势与测试测量解决方案，欢迎到场沟通洽谈！

                                        PART/1  展会邀请

展会时间：2026.03.25–03.27

展会地点：上海新国际博览中心

美星科技展位：E7馆 E7751

PART/2  展品预览

MDO-040X系列  超高速眼图与数字化仪

     MDO-040系列，PXIe模块化超高速眼图与数字化仪，面向高速链路调试与快沿瞬态观测。聚焦两大核心能力：眼图测试与快沿测试，并支持融入系统级验证与自动化流程。

• 模拟带宽：40GHz
• 实时采样率：120 GSa/s

MHS-328X系列  高速串行仪表

      MHS系列高速串行仪表，是一个高性能、PXIe模块化FPGA处理模块，适用于各类需要高速串行接口与大规模逻辑计算的测试系统中。

• 双向通道，32Tx-32Rx
• 数据速率可达28 Gbits/s
• 误码率计算和眼图分析能力
• 收发端参数配置支持高度自定义

MVT-082X系列  矢量信号收发仪表

      MVT-082C矢量信号收发仪是基PXI架构的高性能射频测试解决方案，由三大核心模块组成：MVG-102B矢量信号发生器、MSA-082C矢量信号分析仪和MCK-122C时钟基准卡，通过集成化设计实现了发射与接收功能的一体化。

• 独立双通道，2Tx-2Rx
• 信号带宽可扩展，1200MHz
• 支持Port Module扩展收发端口
• 宽带EVM测试能力

      如果你对文中产品细节、应用场景或测试方案感兴趣，欢迎来现场聊一聊。3月25–27日，上海新国际博览中心 E7 馆 E7751，美星科技期待与您相见，现场将有演示与资料领取，欢迎莅临交流！

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ABOUT US

      美星科技（MET）专注于提供射频与高速测试的PXI模块化测量仪表及解决方案。MET的PXI模块化测量仪表，包括高速数字示波器(DSO)、任意波形发生器(AWG)、矢量信号收发器(VST)和模拟信号源(ASG)。我们开发了一系列优化用户体验的配套软件，包括ScopeWave™示波器软件、DesignerWave™信号发生软件和SageWave™矢量信号分析软件。

      针对不同应用场景，MET提供全面的测试解决方案，包括高速数字接口SerDes、ADC/DAC/Transceiver、RF-SOC和高速线缆等专用测试系统，并配套相应的测试套件。

      MET的产品广泛应用于移动通信、无线局域网、卫星导航、高性能计算和智能汽车等领域，同时为半导体测试提供关键支持。我们的研发团队持续探索前沿科技，开发自主知识产权产品，为客户提供高效精准的测试方案。

      MET坚信：测量即认知，创新引领未来。